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inTEST 半導體元器件高低溫測試
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inTEST 半導體元器件高低溫測試

inTEST 半導體元器件高低溫測試
半導體元器件

半導體器件 semiconductor device, 是導電性介于良導電體與絕緣體之間, 利用半導體材料特殊電特性來完成特定功能的電子器件, 可用來產生, 控制, 接收, 變換, 放大信號和進行能量轉換.

半導體元器件高低溫測試: 為了滿足半導體部分元器件以及 PCB 板部分元件的可靠性, 以及在運行功耗的情況下的功能性, 特異性分析, 需要模擬不同的溫度環境下或者往復溫度變化下的測試需要.

半導體器件高低溫測試客戶案例: 某生產半導體元器件企業
客戶一般在 wifi 模塊以及 PCB 板子中的部分元件測試. 溫度測試需要在 -60℃~120℃ 區間內設定高溫和低溫, 并盡可能減少溫度點之間的切換時間. 同時要求均勻的將溫度吹掃至待測物體表面. 并維持高低溫度設定點每個溫度點 12H 切換一次, 照此循環30次, 并且以上操作不能影響其他非測試元器件.

針對客戶提出的測試要求, 上海伯東提供半導體器件高低溫測試解決方案
推薦選用美國 intest 熱流儀 ATS -545 可滿足客戶的測試標準條件.
ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的測試溫度
能夠提供有效的均勻的吹掃氣流垂直的吹到客戶所需要的元器件的表面, 4 to 18scfm 風速供客戶根據不同要求提供選擇
提供標準配件, 接受客戶定制, 滿足不同測試的元器件所需要的適當尺寸
在溫度點之間的跳躍,更快的速度實現切換
并且以上操作不影響其他非測試元器件. 保證客戶的單向分析
上海伯東是美國 inTEST 高低溫測試機中國總代理

若您需要進一步的了解詳細信息或討論, 請參考以下聯絡方式:
上海伯東: 葉女士                             臺灣伯東: 王女士
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